新闻网讯 近日，学校客座教授聘任仪式在会议中心201举行。理学中国公司董事长李林、直销经理冯霆、大客户经理王奕、高级应用专家金廷恩和严子耳，副校长王发洲出席会议。

王发洲宣读聘任决定，并为理学中国公司李林董事长颁发客座教授聘书。李林表示，非常荣幸加盟武汉理工大学并成为客座教授，感谢学校的认可与厚爱，今后将不断加强与学校的交流，为学校的教育发展贡献力量。

李林作了题为《电子衍射技术及其在材料研究中的先进应用》的报告，主要就现代高端电子衍射技术的特点和应用市场，结合具体案例为师生们进行了深入浅出的讲解。

理学中国公司高级应用专家金廷恩博士和严子耳博士分别带来题为“X-射线衍射仪的全面解决方案”和“利用XRD技术表征薄膜材料-新一代二维检测器的应用”的学术报告，让现场师生对材料研究与测试分析前沿技术有了更深入和全面的了解。

人事处、国际处、材料学院、材料示范学院、光纤中心、新材所、硅酸盐中心等单位负责人，测试中心领导班子全体成员和200余名师生代表参加活动。

文：祁琰媛；图：材料学院；编辑：曹明；审核：张莉